糖耐量異常

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糖耐量異常包括空腹血糖受損(IFG)、糖耐量減低(IGT),是介于正常糖耐量及糖尿病之間的一種中間狀態(tài)。

  糖耐量減低(IGT)是由正常血糖向糖尿病過渡的異常糖代謝階段,主要表現(xiàn)為餐后血糖升高。診斷標(biāo)準(zhǔn)為:空腹血糖<6.1毫摩爾/升,口服葡萄糖耐量試驗(OGTT)2小時后血漿血糖值處于7.8~11.1毫摩爾/升之間,稱為IGT。空腹血糖受損(IFG)是指空腹血糖6.1~7.O毫摩爾/升,口服葡萄糖耐量試驗(OGTT)2小時血糖<7.8豪摩爾/升。二者皆有則統(tǒng)稱為糖調(diào)節(jié)受損(IGR)。目前認(rèn)為,幾乎所有糖尿病患者都要經(jīng)歷IFG和IGT階段,故又稱為糖尿病前期-糖耐量異常階段。若病情進(jìn)展,空腹血糖>7.0毫摩爾/升,餐后血糖>11.1毫摩爾/升時,即進(jìn)入糖尿?。―M)階段。

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